例如,Bio-Logic測試盒Test-box 3的CV曲線如圖1所示,采用PEIS技術測試的Nyquist阻抗圖如圖2所示。Test-box 3主要由兩個晶體管組成。它是金屬鈍化的模型[5-6]。圖2所示的Nyquist阻抗圖由兩個在頻率上分離開的電容弧組成。使用K-K轉換計算的阻抗ZKK如圖2所示。所有頻率下Z和ZKK圖都是相似的,因此阻抗測量是在因果的、穩定的、線性的、定時的系統下進行的。
圖1: Test-box 3的I vs. EWE穩態曲線
圖2: Test-box 3 在圖1中a點對應的PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
使用K-K轉換計算的阻抗ZKK如圖3所示。這兩個阻抗圖不同,表明阻抗測量是在非線性條件下進行的。
圖3: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = -0.35 V, Va = 375 mV, fmin = 0.2 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
我們假設,由于某種原因,Nyquist圖是在有限的頻率范圍內測量的(圖4)。
圖4: 有限范圍頻率值下的截斷阻抗圖(EWE = -0.35 V, Va = 10 mV, fmin = 10 Hz, fmax = 50 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖5所示的理論阻抗顯示了截斷實驗阻抗圖的有效性。
圖6是采用PEIS技術測試Bio-Logic測試盒Test-box 3 在圖1中b點(即在電位控制(PC)下)的Nyquist阻抗圖。圖6所示的Nyquist阻抗圖仍然由兩個電容弧組成,根據鐘形穩態曲線,兩個電容弧在頻率上分離開,低頻時阻抗的實部為負值。
圖6: Test-box 3,PEIS在圖1的b點測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖7: 恒電位控制下標量線性系統的研究簡圖
圖8: Test-box 3,PEIS測得的Nyquist圖(EWE = 1.35 V, Va = 10 mV, fmin = 1 Hz, fmax = 100 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖9: 由圖8所示的導納圖反演得到Z(藍色標記)和ZKK(紅色曲線)阻抗圖
圖10: 使用PEIS技術在H2SO4介質中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)
圖11顯示了Y導納圖和YKK導納圖之間的良好一致性,以及鎳電極在酸性介質中測量阻抗的一致性。導納圖之間的偏移是由于f→∞的阻抗實部的測量誤差引起的。
圖11: 使用PEIS技術在H2SO4介質中獲得的鎳電極Nyquist圖(EWE = 0.9 V, Va = 12.5 mV, fmin = 50 mHz, fmax = 10 kHz(藍線))以及K-K轉換獲得的Nyquist圖(紅線)