我們知道歐姆降會對電化學測試結果造成較大的影響,有沒有辦法將其影響消除呢?Bio-Logic電化學工作站可以使用EC-Lab軟件中Ohmic Drop Determination測試合集中找到測定歐姆降的方法并對此做出補償。
在Insert Techniques窗口中可以看到Ohmic Drop Determination中的3種測試方法:
歐姆降測定的方法分別有MIR,ZIR及CI三種。
MIR為手動設置歐姆降數值進行補償,此方法適合已知歐姆降數值時進行手動設置。
但實際測試過程中,歐姆降通常是未知的,那么我們可以用ZIR或CI進行歐姆降測定。ZIR即使用PEIS交流阻抗技術測定歐姆降,ZIR通過PEIS技術測出體系在高頻時的交流阻抗實部得到歐姆降數值:
ZIR適合擁有EIS交流阻抗模塊的測試通道。
CI為電流擾動法測定歐姆降。通過對體系施加一個電流脈沖,捕獲上升沿/下降沿的電壓降以計算出歐姆降。此方法適合無EIS交流阻抗模塊的測試通道。
Bio-Logic VMP-300系列儀器支持選擇通過軟件或硬件模式進行補償,通常保持默認通過軟件模式補償即可。
如需對循環伏安CV測試方法進行歐姆降補償的話,只需在測試編程窗口中將ZIR或CI置于CV之前,ZIR或CI便會自動測定歐姆降,并在下一個測試CV中進行歐姆降補償。
上一篇:SKP模塊中的高度追蹤技術
下一篇:歐姆降對電化學測試的影響